JEOL: Veröffentlichung des neuen Rasterelektronenmikroskops JSM-IT700HR

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Präsident & COO Izumi Oi) gibt die Markteinführung eines neuen Rasterelektronenmikroskops (Scanning Electron Microscope, SEM), dem JSM-IT700HR für einen beispiellos hohen Durchsatz, für August 2020 bekannt. Hintergrund der Entwicklung Rasterelektronenmikroskope werden in verschiedenen Bereichen eingesetzt, wie im Bereich der Nanotechnologie, Metalle, Halbleiter, Keramiken, Medizin und Biologie. Darüber hinaus werden die SEM-Anwendungen auf die