JEOL: Veröffentlichung eines neuen Schottky Field Emission (FE) Rasterelektronenmikroskops JSM-IT800

TOKIO--(BUSINESS WIRE)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Präsident und COO Izumi Oi) gibt die Markteinführung des neuen Schottky Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops JSM-IT800 im Mai 2020 bekannt. Hintergrund der Entwicklung Rasterelektronenmikroskope (Scanning Electron Microscopes, SEMs) werden in verschiedenen Bereichen eingesetzt, wie zum Beispiel im Bereich der Nanotechnologie, Metalle, Halbleiter, Keramiken, Medizin und Biologie. Da sich SEM-Anwendungen von der Forschung und Entwicklung bis hin